Palvelun sisältö
|
Testikohde |
Tarjousyksikkö |
Näytteen tyyppi |
|
Poikkileikkauksen käsittely ja metrologia |
Tunti (h) |
Semiconductor samples such as 3D NAND, DRAM, MEMS; other samples requiring large-size (>50 µm) käsittely |
|
Suuri-kokoinen TEM XS (poikkileikkaus{1}}) näytteen valmistelu |
Tunti (h) |
Sama kuin yllä |
|
Suuri-koko TEM PV (suunnitelma-näkymä) Näytteen valmistelu |
Tunti (h) |
Sama kuin yllä |
|
Mikrovalmistus (etsaus tai pinnoitus) |
Tunti (h) |
Sama kuin yllä |
|
Viivästymisanalyysi (viivästys) |
Tunti (h) |
Hotspot-näytteen viivästysanalyysi |
Palvelun laajuus
Katso palvelutiedot, näytetyypit
Testauskohteet
Katso palvelutiedot, testauskohteet
Testaussykli
Normaali testausjakso on 3 kalenteripäivää. Erikoisvaatimuksiin voimme tarjota tarjouksia eri vasteajoille: 48h, 24h ja 12h.
Edumme
Tiimimme jäsenillä GRGTEST Metrology Platformissa on keskimäärin yli 5 vuoden käytännön kokemus elektronimikroskopiasta, minkä ansiosta voimme tarjota tarkkoja, nopeita ja ammattimaisia testauspalveluita.
Uuden sukupolven PFIB-mikroskooppiputkillamme voidaan saavuttaa suurin suorituskyky ja laadukkain poikkileikkaus{0}}prosessointi ja mikrotyöstö.
Yhdessä 500 V:n loppukiillotukseen voimme saavuttaa korkealaatuisimman Ga{1}}vapaan TEM-näytteen valmistelun.
Suositut Tagit: pfib (plasma fokusoitu ionisäde), Kiina pfib (plasma fokusoitu ionisäde) -palveluntarjoaja
